DRX TEMP

Transcription

DRX TEMP
FERMAT - PROJET DRX TEMP
FERMAT
PROJET D’EQUIPEMENT
CADRE CPER
DRX TEMP
FERMAT - PROJET DRX TEMP
PROJET
Diffractomètre de rayons X sur poudre équipé pour mesures spécifiques :
température, atmosphère, couches minces, analyse de surface.
TECHNIQUE
Ö Diffractomètre de rayons X sur poudre
Ö Optique de rayons X adaptée
Ö Chambre en température et en atmosphère contrôlée
Ö Détecteur rapide
CADRE
Appareil localisé au CIRIMAT/LCMIE
Service de DRX poudres
Ö Personnels compétents en radioprotection
Ö Entretien et formation
Ö Logiciels et base de données
COUT
Enveloppe budgétaire : 110 – 130 k€HT
[Devis INEL 110k€HT hors option]
FERMAT - PROJET DRX TEMP
PROJET
Diffractomètre de rayons X sur poudre équipé pour mesures spécifiques :
température, atmosphère, couches minces, analyse de surface.
FERMAT
Ö Besoins déjà recensés au sein du T11 « Matériaux et Energie »
Caractérisations des matériaux à leurs T, P de fonctionnement
Caractérisations des surfaces et interfaces (films minces)
T11 Chamelot-Barnabé (LGC/CIRIMAT)
Développement de nouveaux matériaux inertes en milieu sels fondus.
T11 Meireless-Ansart (LGC/CIRIMAT)
SOFC : maitrise de la dispersion en phase liquide de nanoparticules d’oxydes en vue de la mise en forme des matériaux.
T11 Locatelli-Petit (LGP/LPCE)
Etude et durabilité de matériaux organiques du packaging des semi-conducteurs pour l’électronique de puissance haute température et haute tension.
Ö Autres besoins à recenser au sein du T11 et des autres thématiques
A définir
Ö Outils pour le développement de thématiques émergentes
T11 : couplage structure – thermodynamique
autres T : accès à la caractérisation structurale + réflectivité
FERMAT - PROJET DRX TEMP
UTILISATIONS
Diffraction des rayons X sur poudres classique (à température ambiante)
Ö Analyses structurales
identification de phases,
paramètres de maille,
positions atomiques,
analyse quantitative,
etc…
Ö Analyses microstructurales
taille des particules,
microcontraintes,
etc…
Intensité (u.a.)
Caractérisation de la structure et de la
microstructure de nanoparticules de CeO2
45 46 47 48 49 50 51
30
40
50
60
70
Angle 2θ (°)
80
90
Caractérisation des transitions de phases
(quadratique Ö cubique) dans le système ZrO2 - YO1.5
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UTILISATIONS
Diffraction des rayons X sur poudres en température et sous atmosphère contrôlée
Ö Mêmes applications qu’à Tamb mais aussi en fonction de la température et de l’atmosphère
Ö Caractérisation des transitions de phases en température, phases hautes temp., expansion thermique, etc…
CuFe2O4 + CuO
CuFeO2
Caractérisation des transitions de phases en température dans le système Cu-Fe-O
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UTILISATIONS
Diffraction des rayons X en incidence rasante
Ö analyse de couches minces
25
30
35
40
45
01
8
00
9
01
5
10
4
10
1
01
2
10nm
00
6
Ö analyse de surface :
mesure de l’épaisseur de couches,
mesure de la densité électronique,
mesure des rugosités de surface et d’interfaces
Coups (u.a.)
Réflectivité des rayons X
50
55
60
2θ (°)
Caractérisation de la structure d’un film mince de 50nm en GIXRD
Mesure de densité électronique et d’épaisseur d’un film mince
d’oxyde de Fe et Cu par réflectivité des RX
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CONTACTS et INFORMATIONS
Réunion générale d’information prévue courant septembre 08
Coordinateur Thématique T11 « Matériaux & Energie »
Pierre CHAMELOT
Université Paul Sabatier - LGC
05 61 55 82 07
[email protected]
Projet DRX – FERMAT
Antoine BARNABE
Université Paul Sabatier - CIRIMAT/LCMIE
05 61 55 77 51
[email protected]