Analyse dynamique des circuits intégrés par analyse laser en mode

Analyse dynamique des circuits intégrés par analyse laser en mode sonde
Nom, prénom du proposant CNES : Sanchez Kevin
Sigle du proposant : DCT/AQ/LE
Email du proposant : [email protected]
Laboratoire d’accueil envisagé : CNES
Directeur de Recherche envisagé : P. Perdu
Profil du candidat (préciser
Microelectronique, Optique
la
spécialité
de
Master) :
Electronique,
Descriptif du sujet (une page maximum)
Le sujet de thèse porte sur le développement et l’intégration d'un système d’analyse des circuits intégrés par
laser en mode « sonde ». Les techniques envisagées reposent sur l'analyse du rayonnement laser réfléchi
sur la face active des circuits intégrés lors de leur excitation dynamique. Les variations des propriétés
électriques internes aux circuits intégrés (champs électrique, densité de porteurs) perturbent l’interaction
laser matière et par conséquent l’onde laser réfléchie. Cette onde peut alors être utilisée pour extraire des
informations sur le fonctionnement dynamique des composants en analyse.
Le principe de cette méthode est dérivé des sondes électroniques utilisées dans les années 90 pour
visualiser le contraste de potentiel, mais cette technique n'est plus utilisable sur les circuits actuels à cause
du nombre important de métallisations. La technique proposée ouvre donc de grandes possibilités en terme
d'analyse dynamique directe des circuits.
Les développements attendus portent sur l’optimisation des mises en œuvre actuelles et sur l’utilisation de
faisceaux lasers continus ou modulés. Ces développements s’appuieront sur l’analyse théorique des
différentes interactions laser/matière jouant sur les modifications de l’onde laser réfléchie.
Le travail du doctorant se focalisera sur la chaine de détection électro-optique, sa mise en œuvre, son
optimisation et sur son exploitation/validation avec des composants de référence (structures de test sur
technologies récentes, 45nm et plus ancien) et sur des cas réels (VLSI, COTS et ASIC).